Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FE) JSM-IT810, JEOL
Флагманский электронный микроскоп с полевой эмиссией (FE-SEM) серии InTouchScope™, который устанавливает новые стандарты разрешения и автоматизации в наномасштабных исследованиях. Благодаря интегрированной системе интеллектуального управления NEOENGINE прибор обеспечивает исключительную стабильность электронного луча и автоматическую корректировку изображения даже при изменении ускоряющего напряжения или тока. Главная особенность модели – функция Neo Action, позволяющая автоматизировать рабочие процессы без программирования: пользователю достаточно выбрать область исследования, а микроскоп самостоятельно выполнит серию снимков и химический анализ (EDS). Сочетание сверхвысокого разрешения с интуитивно понятным интерфейсом SEM Center и функцией Zeromag (плавный переход от оптики к электронике) делает JSM-IT810 идеальным решением для материаловедения, нанотехнологий и контроля качества.
Ключевые технические характеристики JSM-IT810
- Разрешение: достигает впечатляющих 0,5 нм (за 15 кВ) или 0,7 нм (за 1 кВ) в версии SHL, что позволяет визуализировать мельчайшие детали наноструктур
- Увеличение: широкий охват от x10 до x2 000 000, что обеспечивает как панорамный обзор образца, так и максимальную детализацию
- Напряжение ускорения: регулируется в диапазоне от 0,01 кВ до 30 кВ для оптимального исследования разных типов материалов
- Система Neo Action: встроенная функция автоматического беспроводного наблюдения и анализа, что значительно повышает производительность лаборатории.
- Интегрированный EDS-анализ: функция Live EDS позволяет мгновенно видеть элементный состав образца непосредственно при поиске нужного участка
- Режим низкого вакуума: позволяет исследовать непроводящие и влажные образцы без необходимости нанесения токопроводящего покрытия
- Электронная пушка: высокоэффективный катодный источник (Schottky FEG) с большим током зонда (до 500 нА), обеспечивающий быстрый и точный анализ
- Функция Live 3D: возможность построения трехмерной модели поверхности в реальном времени для оценки образца топографии непосредственно во время наблюдения