Сканувальний електронний мікроскоп із польовою емісією (FE) JSM-IT810, JEOL
Флагманський електронний мікроскоп із польовою емісією (FE-SEM) серії InTouchScope™, що встановлює нові стандарти роздільної здатності й автоматизації в наномасштабних дослідженнях. Завдяки інтегрованій системі інтелектуального керування NEOENGINE прилад забезпечує виняткову стабільність електронного променя й автоматичне корегування зображення навіть у разі зміни прискорювальної напруги чи струму. Головною особливістю моделі є функція Neo Action, яка дає змогу автоматизувати робочі процеси без програмування: користувачеві достатньо вибрати зону дослідження, а мікроскоп самостійно виконає серію знімків та хімічний аналіз (EDS). Поєднання надвисокої роздільної здатності з інтуїтивно зрозумілим інтерфейсом SEM Center та функцією Zeromag (плавний перехід від оптики до електроніки) робить JSM-IT810 ідеальним рішенням для матеріалознавства, нанотехнологій і контролю якості.
Ключові технічні характеристики JSM-IT810
- Роздільна здатність: досягає вражаючих 0,5 нм (за 15 кВ) або 0,7 нм (за 1 кВ) у версії SHL, що дає змогу візуалізувати найдрібніші деталі наноструктур
- Збільшення: широке охоплення від x10 до x2 000 000, що забезпечує як панорамний огляд зразка, так і максимальну деталізацію
- Напруга прискорення: регулюється в діапазоні від 0,01 кВ до 30 кВ для оптимального дослідження різних типів матеріалів
- Система Neo Action: вбудована функція безкодового автоматичного спостереження й аналізу, що значно підвищує продуктивність лабораторії
- Інтегрований EDS-аналіз: функція Live EDS дає змогу миттєво бачити елементний склад зразка безпосередньо під час пошуку потрібної ділянки
- Режим низького вакууму: дозволяє досліджувати непровідні й вологі зразки без необхідності нанесення струмопровідного покриття
- Електронна гармата: високоефективне катодне джерело (Schottky FEG) з великим струмом зонда (до 500 нА), що забезпечує швидкий і точний аналіз
- Функція Live 3D: можливість побудови тривимірної моделі поверхні в реальному часі для оцінювання топографії зразка безпосередньо під час спостереження